IR物镜可用于透过硅材料成像，进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外(IR)物镜,提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜，配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜,校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。

MY300专为材料科学探究设计，能够满足各种金属材料、非金属材料、地质材料表面镜检、筛选及科研需求。机械结构稳定、紧凑，人体工学设计，布局合理，使用舒适能在自然的姿势下进行显微镜操作。采用经过多年研究和不断改良的无限远光学系统具有工作距离长，色彩还原度高，成像精确等光学品质，成像可靠，提供高对比，清晰明亮的图像。MeiyooMY300 显微镜采用模块化设计，实现明场、暗场、微分干涉荧光、偏光等观测方法。是半导体器件、FPD、电子器件、材料、精密模具制造的质控和研究的理想工具。

MD600金相显微镜可将样本置于物镜上方，从下方观察样本，广泛应用于钢铁、汽车、机械电子等行业。在样本不平整或者体积较大的情况下，将样品放置在平台上，可以方便、快速地进行观察MD600可用于5 公斤以下的大而重的样品，适用于数十倍至数千倍的放大观察。与MeiyooM分析软件相互配合，支持客种治金成像分析需求，助力您更加深入研究不同工艺对样本造成的影影响。

SY-900 专为材料科学探究设计，能够满足各种金属材料、非金属材料、地质材料表面镜检、筛选及科研需求。机械结构稳定、紧凑，人体工学设计，布局合理，使用舒适，能在自然的姿势下进行显微镜操作。采用经过多年研和不断改良的无限远光学系统，具有工作距离长，色彩还原度高，成像精确等光学品质，成像可靠，提供高对比，清晰明亮的图像，NM910 显微镜采用模块化设计，实现明场、暗场、微分干涉、荧光、偏光等观测方法。是半导体器件、FPD电子器件、材料、精密模具制造的质控和研究的理想工具。